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    2021年度原厂颗粒固态硬盘深度测试总结

    2022年04月06日 17:25:29   来源:搜狐

      声明:本次测试源自B站UP主小飞机DIY,结果仅供参考,最终解释权归原厂品牌所有!

      测试时间:2021年10月24日0时起——2022年1月10日止

      测试型号:金士顿KC2500(非原厂颗粒用于测试对比)、英睿达P5、铠侠RD20、西数SN750、致钛PC005 Active、三星970EVO PLUS

      测试容量:1TB

      测试模式:黑盒测试+白盒测试

      样本来源:某东自营随机性自购

      测试项目:厂商宣传PE数、冷数据、IO负载测试、循环通断电测试

      测试共消耗硬盘:18块

      测试时主要涉及的工具/硬件:urwtest(用于读写校验测试)、Anvil Storage(用于模拟用户日常使用测试)、Oracle11G(用于模拟IO测试)、Pentaho Kettle(IO测试中间件)、加热台(模拟冷数据测试)、电磁继电器(用于模拟通断电)、18650电池、可调电源、USB线若干、JMS583方案硬盘盒、M.2 NVME转PCI-E硬盘转接卡等

      测试环境:华硕Z9PAU8(X79芯片组)+Xeon E5 2650L v2(10C/20T)+三星32G DDR3 REG

      系统:Windows 10 工作站版(20H2)

      测试目的:

      1.验证原厂颗粒硬盘颗粒寿命是否可达原厂宣传标准(主要)

      2.验证硬盘上长期未使用的文件固件算法对该数据读取速度的影响(冷数据)

      3.验证硬盘在高负载情况下表现(IO测试——附加项目)

      4.验证在保期间硬盘是否会因断电导致损坏(循环通断电测试)

      PS:为保证测试变量一致性,每次测试都是在同一台机器上同时进行的

      先上一张官方宣传页的寿命

      废话不多说,先直接看结果(建议综合一起看)

      寿命整体测试结果:

      冷数据测试结果:

      测试参考闪存通的SSD老化对照表

      计算方式使用闪存通的老化计算器

      先上未老化前的测试结果做为对比

      由于全部硬盘质保期为5年,因此直接测试5年老化情况

      老化数据参考小程序闪存通

      模拟温度:35度

      老化温度:150度

      分别测试半年、一年、两年、三年、四年、五年

      1年模拟后英睿达P5及金士顿KC2500在老化测试中掉速最严重

      英睿达P5在模拟第二年的时候因数据校验不通过而退出测试

      四年模拟时金士顿因不识别而退出测试

      5年模拟测试三星、致钛、西数、铠侠存活成功

      IO测试(子项目)

      此处采用Oracle11G数据库+Kettle写入对比基准线1000W数据进行测试

      用于计算IO消耗时间

      Oracle表空间分别置于每个盘的根目录内

      默认分配存储块200M,自动增长、自动扩展表空间开启

      Oracle主程序安装于C盘

      安装Oracle 11G途中

      用于写入数据的中间件 Kettle

      英睿达因为在高IO写入的情况下发生了掉盘情况,因此IO测试不包含英睿达P5

      空盘状态下各盘写入耗时均为37分钟写入1000W测试数据(英睿达除外)

      1~3年模拟情况

      金士顿KC2500经老化测试后耗时暴增,第三年已完全无法测试IO状况

      西数及铠侠在第二年后开始出现较为明显的变化幅度,三星及致钛变化不明显

      4~5年模拟情况

      5年测试下来,西数和铠侠IO缩水基本在20%左右

      三星和致钛与原始数据相比IO缩水控制在10%左右

      测试视频:

      https://www.bilibili.com/video/BV1uF41187QW/

      循环通断电测试(仅供参考):

      计算方式:假设用户在质保每天电脑开关机次数2-3次,一年约为1000次,5年下来预计在6000次左右

      自制简易型电磁继电器用于测试自动通断电

      测试过程中:

      1000次通断电测试,全部存活

      值得注意的是仅铠侠掉了1%的健康度

      5年模拟通断电测试

      1.英睿达直接直接掉盘

      2.金士顿因数据编译器损坏导致数据无法被读取

      3.铠侠健康掉了15%(看起来铠侠的健康度还与通断电次数挂钩)

      三星、铠侠、西数、致钛成功通过5年6000次通断电模拟测试,数据校验无异常

      测试视频:

      https://www.bilibili.com/video/BV1pL4y147cH/

      点评(仅个人观点)

      铠侠RD20

      优点:速度较快、价格适中

      缺点:寿命消耗快,冷数据方面稍差

      西数SN750

      优点:速度快、IO高、寿命官方符合描述

      缺点:冷数据问题虽然有所缓解,但仍然存在、价格较高、SN550在21年被爆换颗粒门,目前SN750是否会换颗粒,待进一步确认

      三星970EVO PLUS

      优点:速度快、IO高、寿命符合官方描述

      缺点:温度较高、我的测试过程中炸了一个、售价最高

      致钛PC005 Active

      优点:IO高、售价适中、冷数据存储较出色、颗粒寿命符合官方描述甚至有些超预期

      缺点:大文件持续写入速度稍低

      金士顿KC2500

      仅作非原厂颗粒的对比参考,颗粒混用严重,不具备代表性。

      我买的三条中2条采用闪迪颗粒,1条采用东芝颗粒,均为BICS4制程。听说还有买到镁光颗粒的(我暂时没抽到)。

      英睿达P5,全部测试过中阵亡,可能是我脸黑

      因此,无法评论

      因英特尔闪存业务被海力士收购,近期无新产品因此英特尔不在测试范围

      因海力士固态大多数应用于OEM领域,暂时未发现零售系列渠道,因此不在测试范围

      参考资料:

      ONFI:http://www.onfi.org/

      JEDEC:https://www.jedec.org/

      Mircon:https://www.micron.com/

      维基百科:https://zh.wikipedia.org/

      知乎:https://www.zhihu.com/

      学术:

      https://scholar.google.com

      文章内容仅供阅读,不构成投资建议,请谨慎对待。投资者据此操作,风险自担。

    [No. H001]
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